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淺析質(zhì)譜分析儀使用知識(shí)
淺析質(zhì)譜分析儀使用知識(shí)
更新時(shí)間:2013-09-23 點(diǎn)擊次數(shù):3074
質(zhì)譜分析儀用于監(jiān)測(cè)復(fù)雜過(guò)程的四極氣體分析系統(tǒng)。允許7天24小時(shí)連續(xù)監(jiān)測(cè),達(dá)到zui大的產(chǎn)額和產(chǎn)量,從而將成本降至zui低。足夠的小型和性能,可安裝在壓強(qiáng)很高的真空室內(nèi)。HexBlock取樣系統(tǒng)的*性能。內(nèi)置CDG,用于過(guò)程壓強(qiáng)監(jiān)測(cè)和真空聯(lián)鎖。備有可選的校準(zhǔn)參考源,用于調(diào)諧和氣體參。封閉的長(zhǎng)壽命離子源可在阻擋大多數(shù)腐蝕性和反應(yīng)性氣體的同時(shí),檢測(cè)亞ppm量級(jí)的污染物。重量輕,易搬運(yùn)。
質(zhì)譜分析儀以離子源、質(zhì)量分析器和離子檢測(cè)器為核心。離子源是使試樣分子在高真空條件下離子化的裝置。電離后的分子因接受了過(guò)多的能量會(huì)進(jìn)一步碎裂成較小質(zhì)量的多種碎片離子和中性粒子。它們?cè)诩铀匐妶?chǎng)作用下獲取具有相同能量的平均動(dòng)能而進(jìn)入質(zhì)量分析器。質(zhì)量分析器是將同時(shí)進(jìn)入其中的不同質(zhì)量的離子,按質(zhì)荷比m/e大小分離的裝置。分離后的離子依次進(jìn)入離子檢測(cè)器,采集放大離子信號(hào),經(jīng)計(jì)算機(jī)處理,繪制成質(zhì)譜圖。離子源、質(zhì)量分析器和離子檢測(cè)器都各有多種類(lèi)型。質(zhì)譜儀按應(yīng)用范圍分為同位素質(zhì)譜儀、無(wú)機(jī)質(zhì)譜儀和有機(jī)質(zhì)譜儀;按分辨本領(lǐng)分為高分辨、中分辨和低分辨質(zhì)譜儀;按工作原理分為靜態(tài)儀器和動(dòng)態(tài)儀器。
質(zhì)譜分析儀zui重要的應(yīng)用是分離同位素并測(cè)定它們的原子質(zhì)量及相對(duì)豐度。測(cè)定原子質(zhì)量的精度超過(guò)化學(xué)測(cè)量方法,大約2/3以上的原子的質(zhì)量是用質(zhì)譜方法測(cè)定的。由于質(zhì)量和能量的當(dāng)量關(guān)系,由此可得到有關(guān)核結(jié)構(gòu)與核結(jié)合能的知識(shí)。對(duì)于可通過(guò)礦石中提取的放射性衰變產(chǎn)物元素的分析測(cè)量,可確定礦石的地質(zhì)年代。質(zhì)譜方法還可用于有機(jī)化學(xué)分析,特別是微量雜質(zhì)分析,測(cè)量分子的分子量,為確定化合物的分子式和分子結(jié)構(gòu)提供可靠的依據(jù)。由于化合物有著像指紋一樣的*質(zhì)譜,質(zhì)譜儀在工業(yè)生產(chǎn)中也得到廣泛應(yīng)用。
質(zhì)譜分析是一種測(cè)量離子荷質(zhì)比(電荷-質(zhì)量比)的分析方法,可用來(lái)分析同位素成分、有機(jī)物構(gòu)造及元素成分等。*臺(tái)質(zhì)譜儀是英國(guó)科學(xué)家弗朗西斯·阿斯頓于1919年制成的。阿斯頓用這臺(tái)裝置發(fā)現(xiàn)了多種元素同位素,研究了53個(gè)非放射性元素,發(fā)現(xiàn)了天然存在的287種核素中的212種,*次證明原子質(zhì)量虧損。他為此榮獲1922年諾貝爾化學(xué)獎(jiǎng)。
質(zhì)譜分析儀技術(shù)特點(diǎn):帶EM的NDPP在10,000增益和1-秒停留時(shí)間下;質(zhì)量數(shù)40對(duì)41amu的貢獻(xiàn);零blast對(duì)2amu的貢獻(xiàn);zui小可檢濃度,氪在空氣中在1-秒停留時(shí)間下;低發(fā)射下的線(xiàn)性,在0.1至2倍常規(guī)小孔壓強(qiáng)下;使用總壓強(qiáng)規(guī)管在低發(fā)射下的壓強(qiáng)調(diào)值;低發(fā)射下的總壓強(qiáng)精度;低發(fā)射下離子源zui大工作壓強(qiáng)(燈絲關(guān)斷閾值);在封閉型離子源中2E-4乇,在四極場(chǎng)范圍中將產(chǎn)生約1E-5乇;zui小EM增益在zui大EM電壓下。
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